[发明专利]磁瓦检测机构

摘要

一种磁瓦检测机构包括第一检测组件、第二检测组件以及控制器，第一检测组件包括第一检测支架、第一检测相机以及第一检测光源，第一检测支架支撑于机架上，第一检测相机设置于第一检测支架上并与第一检测光源配合；第二检测组件包括第二检测支架、第二检测相机、第二检测光源以及转向组件，第二检测支架支撑于机架上，转向组件设置于第二检测支架上，第二检测相机与第二检测光源配合，控制器用于根据第一检测组件和第二检测组件的检测结果对当前磁瓦进行缺陷分析。本发明磁瓦检测机构对磁瓦的外弧面、内弧面、边面以及端面进行拍照取像，并分析判断磁瓦是否存在缺陷，提高磁瓦检测准确率和检测效率，提高自动化程度以利于生产效率的提高。

主权项

1.一种磁瓦检测机构，设置于机架上用于对传输组件传送的磁瓦进行缺陷检测，其特征在于：所述磁瓦检测机构包括第一检测组件、第二检测组件以及控制器，所述第一检测组件包括第一检测支架、第一检测相机以及第一检测光源，所述第一检测支架支撑于所述机架上，且设置于所述传输组件的上方；所述第一检测相机活动设置于所述第一检测支架上并与所述第一检测光源配合，用于对所述磁瓦的外弧面、内弧面或边面中至少一者进行拍照取像；所述第二检测组件包括第二检测支架、第二检测相机、第二检测光源以及转向组件，所述第二检测支架支撑于所述机架上，且设置于所述传输组件的上方；所述转向组件设置于所述第二检测支架上，用于抓取所述传输组件上待检测所述磁瓦并进行转向操作，所述第二检测相机活动设置于所述第二检测支架上并与所述第二检测光源配合，用于对转向后的所述磁瓦的端面进行拍照取像；所述控制器用于根据所述第一检测组件和所述第二检测组件的检测结果对当前所述磁瓦进行缺陷分析。