[发明专利]一种带光束调整的EDXRF检测装置在审
| 申请号： | 201611232557.3 | 申请日： | 2016-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN106872502A | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 蔺春波;王慧利;张雪鹏;孙强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 | 代理人： | 尹庆娟 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种带光束调整的EDXRF检测装置属于X射线检测技术领域，目的在于解决现有技术存在的XRF检测过程中初级X射线的光强和光束形状对检测精度和探测稳定性影响大的问题。本发明包括支撑壳体、设置在支撑壳体上的发光机构、样品存放机构和探测分析机构以及设置在发光机构和样品存放机构之间的光束调整机构；所述光束调整机构包括圆筒状挡光机构以及嵌套在挡光机构内的聚光机构，所述挡光机构的外壁为不透光部分对初级X射线进行遮挡；发光机构发出的初级X射线的边缘光束经挡光机构进行遮挡，中间光束经聚光机构会聚成平行光束或会聚光束打到样品存放机构的样品上，激发样品所含元素的特征X射线经探测分析机构接收。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光束 调整 edxrf 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种带光束调整的EDXRF检测装置，包括支撑壳体(1)以及设置在支撑壳体(1)上的发光机构(2)、样品存放机构(3)和探测分析机构(4)，其特征在于，还包括设置在发光机构(2)和样品存放机构(3)之间的光束调整机构(4)；所述光束调整机构(4)包括圆筒状挡光机构(51)以及嵌套在挡光机构(51)内的聚光机构(52)，所述挡光机构(51)的外壁为不透光部分对初级X射线进行遮挡；所述挡光机构(51)不透光部分一端固定在发光机构(2)的光束出射位置，聚光机构(52)远离发光机构(2)一端固定在样品存放机构(3)一侧；发光机构(2)发出的初级X射线的边缘光束经光束调整机构(4)的挡光机构(51)进行遮挡，中间光束经光束调整机构(4)的聚光机构(52)会聚成平行光束或会聚光束打到样品存放机构(3)的样品上，激发样品所含元素的特征X射线经探测分析机构(4)接收。
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