[发明专利]一种快速判断气相沉积产品质量缺陷发生时间的方法在审

专利信息
申请号: 201611238656.2 申请日: 2016-12-28
公开(公告)号: CN106835061A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 任小红;吴锋;高云龙;曹忠;姜海明 申请(专利权)人: 内蒙古神舟硅业有限责任公司
主分类号: C23C14/54 分类号: C23C14/54;C23C16/52;G06F19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 010070 内蒙古自*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要: 发明公开了一种快速判断气相沉积产品质量缺陷发生时间的方法,其包括如下步骤(1)确定样品沉积速率方程;(2)确定一般气相沉积反应的速率方程;(3)积分得到气相沉积厚度方程;(4)求得未知修正比例系数a;(5)解得质量缺陷发生时间。本发明的优点在于通过本发明方法可以准确锁定质量缺陷发生时间,快速确定质量缺陷产品范围,从而缩短工艺质量缺陷原因排查的时间,快速制定措施,及时响应,将质量损失控制到最低;缩短工艺质量缺陷原因排查的时间,大大降低检测产品质量缺陷的成本。
搜索关键词: 一种 快速 断气 沉积 产品质量 缺陷 发生 时间 方法
【主权项】:
一种快速判断气相沉积产品质量缺陷发生时间的方法,其特征在于,其包括如下步骤:(1)确定样品沉积速率方程;(2)确定一般气相沉积反应的速率方程;(3)积分得到气相沉积厚度方程;(4)求得未知修正比例系数a;(5)解得质量缺陷发生时间;其中,(1)确定样品沉积速率方程:通过对整个生产周期的沉积速率进行计算,得到生产周期内每小时所述沉积速率的数据后,应根据所述沉积速率绘制出产品的沉积速率曲线,通过数据处理软件对所述沉积速率曲线进行拟合,可以得到检测样品的所述沉积速率随时间变化的样品沉积速率方程,设所述样品沉积速率方程为y=f(t);(2)确定一般气相沉积反应的速率方程:同一企业,气相沉积反应设备虽然型号相同,但因所述气相沉积反应设备表面反射率、仪表检测的差异,每台所述气相沉积反应设备在相同的时间内沉积速度有微小的不同,但通过实践检验,所述气相沉积反应设备情况的影响对整个沉积过程的影响均相似,可以引入所述气相沉积反应设备对沉积过程影响的修正比例系数a,得出一般气相沉积反应速率方程y=f(at);(3)积分得到气相沉积厚度方程:对所述一般气相沉积反应速率方程y=f(at)进行积分,即为气相沉积厚度方程对积分式进行求解,可解得包含未知常量a的沉积厚度h随变量时间t变化的气相沉积厚度方程;(4)求得未知修正比例系数a:测量沉积总厚度h总,并将测得的所述沉积总厚度h总和沉积总时间t总代入所述气相沉积厚度方程中求解,解得未知修正比例系数a;(5)解得质量缺陷发生时间:通过对气相沉积产品截面进行质量检测,锁定质量缺陷点的位置,然后测量质量缺陷点处沉积厚度h缺陷,将质量缺陷点处的所述沉积厚度h缺陷及所述修正比例系数a代入所述气相沉积厚度方程,对等式进行求解,即可解得质量缺陷发生时间t缺陷。
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