[发明专利]一种检测光学系统像质的方法和系统及一种测试标板有效

专利信息
申请号: 201611239412.6 申请日: 2016-12-28
公开(公告)号: CN106596073B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 孙琦 申请(专利权)人: 歌尔光学科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;吴昊
地址: 261031 山东省潍坊市潍坊高新区*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种检测光学系统像质的方法和系统及一种测试标板,该系统包括标准物、图像采集单元和图像分析单元;标准物位于被测试光学系统的物方焦距处;标准物为带有驱动电路的显示屏,驱动电路驱动显示屏显示用于测量光学系统多种光学参数的图形;或者,标准物包括测试标板和面光源,测试标板位于面光源与被检测的光学系统之间,在面光源的照射下,测试标板显示用于测量光学系统多种光学参数的图形;图像采集单元位于光学系统的像方,通过一次拍摄采集光学系统所成的标准物的像;图像分析单元获取并分析图像采集单元采集到的图像,获取反映光学系统像质的参数。相比于人眼的主观评价,本方案客观有效,重复率好,适用于批量化的检测。
搜索关键词: 一种 检测 光学系统 方法 系统 测试
【主权项】:
一种检测光学系统像质的系统,其特征在于,所述系统包括:标准物、图像采集单元、图像分析单元;所述标准物位于所述光学系统的物方焦距处;所述标准物为带有驱动电路的显示屏,所述驱动电路驱动所述显示屏显示用于测量光学系统多种光学参数的图形;或者,所述标准物包括测试标板和面光源,所述测试标板位于所述面光源与被检测的光学系统之间,在所述面光源的照射下,所述测试标板显示用于测量光学系统多种光学参数的图形;所述图像采集单元位于所述光学系统的像方,用于通过一次拍摄采集所述光学系统所成的所述标准物的像;所述图像分析单元,用于获取并分析所述图像采集单元采集到的图像,获取反映所述光学系统像质的参数。
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