[发明专利]相位检测方法及相位检测装置在审

专利信息
申请号: 201611242550.X 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106772343A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 李传文 申请(专利权)人: 武汉高思光电科技有限公司
主分类号: G01S13/36 分类号: G01S13/36;G01S15/36;G01S17/36
代理公司: 武汉今天智汇专利代理事务所(普通合伙)42228 代理人: 邓寅杰
地址: 430205 湖北省武汉市东湖新技*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及距离测量技术领域,具体涉及一种基于数字信号的相位检测方法和相位检测装置,该装置包括信号发生电路201、信号发射元件202、信号接收元件203、逻辑运算电路204和主控电路205。本发明的相位检测方法及装置通过对发射信号进行编码的方式,编码基础为方波波形,实现全数字测相,有利于降低成本、减小电路体积和功耗,同时避免测相使用正弦波形时由于信号强度不同而比较阈值相同产生的附加相移。
搜索关键词: 相位 检测 方法 装置
【主权项】:
一种相位检测方法,用于对待测目标进行距离测量,其特征在于,该方法包括如下步骤:产生同步的发射编码信号和参考编码信号;根据发射编码信号生成经过编码的发射信号,所述发射信号为光信号、超声波信号或微波信号;将所述经过编码的发射信号导向所述待测目标,并且接收从所述待测目标反射的反射信号;将所述反射信号进行信号处理形成反射编码信号;将反射编码信号和参考编码信号进行逻辑运算得到相位延迟;以及根据所述相位延迟确定待测目标的距离。
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