[发明专利]骨硬化伪影校正系数计算方法及装置有效
| 申请号： | 201611244293.3 | 申请日： | 2016-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN106618620B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 傅建伟 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G06T11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种骨硬化伪影校正系数计算方法及装置，该方法包括：使用计算机断层设备进行模体扫描；设定骨组织由第一物质及第二物质组成，获取不同厚度的所述第一及第二物质组合在断层扫描系统的理论投影值；对该理论投影值进行第一物质硬化校正，获取第一物质硬化校正后投影值；计算不同厚度的所述第一物质及第二物质组合在该断层扫描系统的理想投影值；根据所述第二物质的厚度、第一及第二物质的理想投影值及第一物质硬化校正后投影值，获得骨硬化校正系数。利用本发明方案获得的校正系数，能够在具备良好普适性的前提下，高效地去除骨硬化伪影。 | ||
| 搜索关键词： | 硬化 校正 系数 计算方法 装置 | ||
【主权项】：
一种骨硬化伪影校正系数计算方法，其特征在于，包括：使用计算机断层设备进行模体扫描；设定骨组织由第一物质及第二物质组成，获取不同厚度的所述第一及第二物质组合在断层扫描系统的理论投影值；对该理论投影值进行第一物质硬化校正，获取第一物质硬化校正后投影值；计算不同厚度的所述第一物质及第二物质组合在该断层扫描系统的理想投影值；根据所述第二物质的厚度、第一及第二物质的理想投影值及第一物质硬化校正后投影值，获得骨硬化校正系数。
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