[发明专利]一种用于成像光谱仪的偏振多狭缝结构在审

专利信息
申请号: 201611245112.9 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106840394A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 裴琳琳;吕群波;刘扬阳;王建威;孙建颖;李伟艳;张丹丹;陈鑫雯 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01J3/04 分类号: G01J3/04;G01J3/02;G01J3/28;G01J3/447
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 代理人: 郑立明,郑哲
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于成像光谱仪的偏振多狭缝结构,包括基底,所述基底上通过激光刻蚀工艺从上到下依次刻蚀有三条狭缝,狭缝的尺寸以及狭缝之间的间距均相等,在三条狭缝结构处通过镀膜工艺实现偏振功能,从上到下,狭缝分别对应0°、45°、90°三个偏振态。该偏振多狭缝结构具有高精度、高平行度、高稳定性以及高可靠性的优点。
搜索关键词: 一种 用于 成像 光谱仪 偏振 狭缝 结构
【主权项】:
一种用于成像光谱仪的偏振多狭缝结构,其特征在于,包括:基底,所述基底上通过激光刻蚀工艺从上到下依次刻蚀有三条狭缝,狭缝的尺寸以及狭缝之间的间距均相等,在三条狭缝结构处通过镀膜工艺实现偏振功能,从上到下,狭缝分别对应0°、45°、90°三个偏振态。
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