[发明专利]一种位姿测算光学仪器及调试方法有效
申请号: | 201611250238.5 | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN106595642B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 柴文义;许哲;宋宗玺;袁灏;朱波;黄超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01C21/00 | 分类号: | G01C21/00;G01C25/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 杨引雪 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及光学测量装置领域,具体涉及一种位姿测算光学仪器及调试方法。主要解决了现有的位姿测算仪器测算数据可信度低、不能承受严酷的力学和热学环境,位姿测算光学仪器调试过程复杂的问题。位姿测算光学仪器包括光学相机、多个激光器组件和光学镜头;所述激光器组件和光学镜头均设置于光学相机上,光学相机设置有图像探测器和图像数据处理电路;光学镜头的光轴与图像探测器的视轴重合,光学镜头的光轴与图像探测器感光面垂直;激光器组件包括激光器和调整垫,调整垫设置于激光器与光学相机之间,多个激光器组件以光学镜头的光轴为中心沿圆周方向均布,激光器的光轴与光学镜头的光轴形成一定的夹角。 | ||
搜索关键词: | 一种 测算 光学仪器 调试 方法 | ||
【主权项】:
一种位姿测算光学仪器,其特征在于:包括光学相机、多个激光器组件和光学镜头;所述激光器组件和光学镜头均设置于光学相机的同一平面上;所述光学相机设置有图像探测器和图像数据处理电路;所述光学镜头的光轴与图像探测器的视轴重合,光学镜头的光轴与图像探测器感光面垂直,光学镜头中心与图像探测器中心为同轴设置;所述激光器组件包括激光器和调整垫,调整垫设置于激光器与光学相机之间,多个激光器组件以光学镜头的光轴为中心沿圆周方向均布,所述激光器的光轴与光学镜头的光轴形成一定的夹角。
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