[发明专利]一种高温风洞中材料氧化烧蚀测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201611253828.3 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106680224B 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 冯雪;张长兴;方旭飞;屈哲;朱相宇;王显 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 代理人: 王岩
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种高温风洞中材料氧化烧蚀测量装置及其测量方法。本发明采用高光谱相机拍摄得到被测材料的高光谱图像,红外测温仪得到被测材料表面的一个基准温度;选取两张不同光谱波段的被测材料的图像,计算对应的相同点的亮度比色值,基于红外测温仪标定的基准温度,计算得到被测材料表面的全场温度,对高光谱图像进行温度补偿修正,然后对被测材料表面进行化学成分分析,实现对被测材料烧蚀过程中氧化实时状况的准确监测;本发明在高温风洞环境下烧蚀过程中氧化等化学组分变化实时监测,并且同步得到被测材料表面的全场温度分布,再利用高光谱技术测量被测材料氧化时去除温度变化带来的辐射影响。
搜索关键词: 一种 高温 风洞 材料 氧化 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
1.一种高温风洞中材料氧化烧蚀测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:高温风洞、高光谱相机、红外测温仪和图像处理单元;其中,被测材料置于高温风洞中进行高温烧蚀;所述高温风洞的侧壁上设置有密封的透明的观察窗口;所述高光谱相机和红外测温仪通过同步线连接,并且二者连接至图像处理单元;所述高光谱相机透过高温风洞侧壁上的观察窗口对被测材料的表面进行拍摄,得到高光谱图像,高光谱图像包括一系列多张不同光谱波段的被测材料的图像,并传输至图像处理单元;所述红外测温仪透过观察窗口对准被测材料的表面,得到被测材料表面的一个点的温度,作为基准温度,并传输至图像处理单元;所述图像处理单元选取两张不同光谱波段的被测材料的图像,计算对应的相同点的亮度比色值,基于红外测温仪标定的基准温度,计算得到被测材料表面的全场温度;图像处理单元利用被测材料表面的全场温度对高光谱图像进行温度补偿修正,利用温度补偿修正后的被测材料光谱对被测材料表面进行化学成分分析,实现对被测材料烧蚀过程中氧化实时状况的准确监测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611253828.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top