[发明专利]一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统

摘要

本发明涉及一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，包括通过数据流通讯的主控单元和从端设备端，所述主控单元与从端设备端之间设置有设备互联网络；主控单元的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；从端设备端的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control。本发明将所有测试外设单元挂接在测试总线上，组成测试系统，使用统一、快捷的操作方法来操作每个被测试外设，加快测试系统的集成，减少测试缺陷，提高测试效率。

主权项

1.一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，包括通过数据流通讯的主控单元和从端设备端，所述主控单元与从端设备端之间设置有设备互联网络；/n所述主控单元的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；/n所述从端设备端的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；/n所述从端设备端至少集成有4个被测设备接口，被测设备接口外接被测试设备；/n所述主控单元通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与设备互联网络进行数据流通讯，所述设备互联网络通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与从端设备端中的被测试设备进行数据流通讯；/n所述主控单元的控制信号组Control集成有被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop和被测试设备测试控制应答Ctr_ack，其中被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start及被测试设备测试停止开关Stop的通讯方向为输出，被测试设备测试控制应答Ctr_ack的通讯方向为输入；被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset及被测试设备控制选择开关Ctr_sel的位宽均为N，N≥1；被测试设备数据选择开关Dat_sel的位宽为32，被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop及被测试设备测试控制应答Ctr_ack的位宽均为1；/n所述主控单元的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息下一项Info_next、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end的通讯方向为输入，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的通讯方向为输出，被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy和被测试设备测试错误信号指示Errorde的位宽为N，N≥1；被测试设备测试进行百分比信号指示Percent的位宽为7，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的位宽为1，被测试设备测试结果信息Info_code的位宽为32，被测试设备测试结果信息结束Info_end的位宽为1；/n所述主控单元的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack，其中选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的通讯方向为输出，选择被测试设备参数输出Param_out的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数使能Param_wren和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的位宽为1，选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out和选择被测试设备注入地址Param_adr的位宽为32；/n所述主控单元的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en、选择被测试设备注入数据Inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en与选择被测试设备注入数据Inject_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en的位宽为1，选择被测试设备注入数据Inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size的位宽为32；/n所述主控单元的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid，其中选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size的位宽为32，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的位宽为1，选择被测试设备输出数据Out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的位宽为1；/n所述从端设备端的时钟信号组clk集成有用于注入数据写端口使用的主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk，其中主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的通讯方向均为输入，主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的位宽均为1；/n所述从端设备端的控制信号组Control集成有被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack，其中被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start和被测试设备测试停止开关Dev_stop的通讯方向均为输入，被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的输入方向为输出，被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的位宽均为1；/n所述从端设备端的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的通讯方向均为输出，被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next的通讯方向为输入；被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的位宽均为1，被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent的位宽均为7，被测试设备测试结果信息Dev_info_code的位宽均为32；/n所述从端设备端的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param、选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out，其中选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数Dev_inject_param的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的通讯方向为输出，选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的位宽均为32，Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack的位宽均为1；/n所述从端设备端的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的通讯方向均为输入，选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en的位宽均为1，选择被测试设备注入数据Dev_inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的位宽为32；/n所述从端设备端的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait、选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data，其中选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait和选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en的位宽均为1，选择被测试设备输出数据Dev_out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种；/n所述从端设备端的模板读取信号组Modle集成有被测试设备输入模板数据Dev_modul_data、被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr，其中被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的通讯方向为输入，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的通讯方向为输出，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的位宽为1，被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的位宽为8、16、32及64中任意一种。/n