[发明专利]一种轧辊激光热冲击试验方法

摘要

本发明公开了一种轧辊激光热冲击试验方法，属于热冲击试验技术领域，包括以下几个步骤：步骤A、试样制备，步骤B、试样安放，步骤C、设置试验参数，步骤D、热冲击试验，步骤E、处理热冲击后试样。本发明通过设定半导体激光器的光斑大小、输出功率、扫描速度来控制热冲击的温度场，模拟不同温度下的热冲击，获得与实际工况相仿的热冲击效果，为指导轧辊生产、使用提供有效的数据支持。

主权项

1.一种轧辊激光热冲击试验方法，其特征在于：包括以下几个步骤：/n步骤A、试样制备：将试样分别进行热处理使之达到要求的组织和性能，切割加工成规格为L×W×H的试样，其中L×W面为热冲击面，L 、W、H的尺寸均大于40mm，并对热冲击面进行磨削加工至适宜粗糙度，试样热冲击面的粗糙度为Ra0.4～1.6μm；/n步骤B、试样安放：将步骤A中制备的试样安放在试验台上，采用半导体激光器加热试样的热冲击面；/n步骤C、设置试验参数：以半导体激光器的光斑尺寸、扫描速度、输出功率、加热温度为可调参数，设置半导体激光器的光斑尺寸区域为5×5mm～32×32mm；扫描速度为0～12mm/s，半导体激光器的加热温度控制范围为400～1500℃；/n步骤D、热冲击试验：其中试验过程分为以下几种情况：/n1）当试样为同种材质、相同的热处理工艺时，以半导体激光器的光斑尺寸、扫描速度、输出功率为可调参数，使半导体激光器沿着试样的热冲击面的L方向对试样进行加热，模拟不同加热温度下试样的热冲击抗力；/n2）当试样为同种材质、不同的热处理工艺时，以半导体激光器的光斑尺寸、扫描速度、输出功率、加热温度为固定参数，使半导体激光器沿着试样的热冲击面的L方向对试样进行加热，模拟不同处理工艺下试样的热冲击抗力；/n3）当试样为不同种材质、相同的热处理工艺时，以半导体激光器的光斑尺寸、扫描速度、输出功率、加热温度为固定参数，使半导体激光器沿着试样的热冲击面的L方向对试样进行加热，模拟不同材质试样的热冲击抗力，得到最佳材质；/n4）当试样为不同材质时、不同的热处理工艺时，以半导体激光器的光斑尺寸、扫描速度、输出功率、加热温度为固定参数，使半导体激光器沿着试样的热冲击面的L方向对试样进行加热，模拟不同材质、不同热处理工艺下试样热冲击抗力，得到最佳的材质及热处理工艺；/n步骤E、处理热冲击后试样：首先清洗热冲击试样表面去除表面氧化皮，观测热冲击面上裂纹形貌特征参数，取样，观测热冲击区域的组织、硬度、裂纹形貌尺寸特征参数来表征热冲击抗力。/n