[发明专利]一种在硅衬底上制备高电子迁移率场效应晶体管的方法有效

专利信息
申请号: 201611257930.0 申请日: 2016-12-30
公开(公告)号: CN106711024B 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 贾传宇;殷淑仪;张国义 申请(专利权)人: 东莞市中镓半导体科技有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/335
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 罗晓林;杨桂洋
地址: 523000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种在硅衬底上制备高电子迁移率场效应晶体管的方法,在Si衬底上生长AlN成核层、固定Al组分的AlyGa1‑yN应力释放层和GaN外延层,采用低压化学气相沉积法,铺设第一组碳纳米管,第一组碳纳米管排列方向平行于GaN外延层[1‑100]方向;生长AlyGa1‑yN合并层,铺设排列方向和第一组碳纳米管成45度夹角的第二组碳纳米管,接着再生长AlyGa1‑yN合并层,铺设排列方向和第一组碳纳米管成90度角的第三组碳纳米管,接着生长AlyGa1‑yN合并层,铺设排列方向和第一组碳纳米管成135度角的第四组碳纳米管,再生长AlyGa1‑yN合并层。本发明能获得无龟裂、高晶体质量的GaN外延层。
搜索关键词: 一种 衬底 制备 电子 迁移率 场效应 晶体管 方法
【主权项】:
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