[发明专利]一种ICP-AES检测元素的方法及其应用

摘要

本发明涉及元素检测领域，公开了一种ICP‑AES检测元素的方法及其应用，该方法包括：制作标准曲线，标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系；检测第m个标样的发射特征谱线的强度，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_m；检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y_测；检测第n个标样的发射特征谱线的强度，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_n；根据公式(1)计算试样含量最终值x。还涉及该方法在钢、铁合金或耐火材料元素检测中的应用，本发明的检测方法具有操作简便，检测快速等优点。

主权项

1.一种ICP-AES检测元素的方法，其特征在于，该方法包括：/n(1)以称取0.1000g试样为基准，用含有不同含量的待测元素的标样在ICP-AES上制作标准曲线，标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系；/n(2)检测第m个标样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_m；/n(3)检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y_测；/n(4)检测第n个标样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_n；/n(5)根据公式(1)计算试样含量最终值x；/n /n样品中待测元素的含量为0.1-50重量％，/n当k₁与k₂的差值绝对值大于1％且小于5％时，步骤(3)中仅测定1个试样就进行步骤(4)，连续重复测定下去，重复的次数根据实际需要测定的试样决定，计算时，采用试样前后的两个k值的平均数校正该试样的测定值；/n当k₁与k₂的差值绝对值小于1％时，步骤(3)中测定2-5个试样后再进行步骤(4)，连续重复测定下去，重复的次数根据实际需要测定的试样决定，计算时，采用每个试样前后的两个k值的平均数校正每个试样的测定值。/n