[发明专利]STT-MRAM存储单元在审

专利信息
申请号: 201611264467.2 申请日: 2016-12-30
公开(公告)号: CN106783907A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 尚恩明;胡少坚;陈寿面 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 王仙子
地址: 201210 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种STT‑MRAM存储单元,包括选择晶体管和磁隧道结,所述选择晶体管包括衬底、第一掺杂区、第二掺杂区和栅极,所述磁隧道结包括铁磁金属自由层、铁磁金属固定层和势垒层,所述势垒层设置在所述铁磁金属自由层与所述铁磁金属固定层之间,所述磁隧道结设置在所述第一掺杂区上,所述铁磁金属固定层的磁矩方向固定不变,所述铁磁金属自由层的磁矩方向可改变。在本发明提供的STT‑MRAM存储单元中,通过将磁隧道结设置在选择晶体管的第一掺杂区上,从而提高了磁隧道结与选择晶体管之间的耦合强度,通过铁磁金属自由层及铁磁金属固定层的磁矩方向来实现读写操作,同时STT‑MRAM存储单元的结构可简化生产工艺,从而提高产品集成度和稳定性。
搜索关键词: stt mram 存储 单元
【主权项】:
一种STT‑MRAM存储单元,其特征在于,所述STT‑MRAM存储单元包括选择晶体管和磁隧道结,所述选择晶体管包括衬底、第一掺杂区、第二掺杂区和栅极,所述第一掺杂区和所述第二掺杂区位于所述衬底中,所述磁隧道结包括铁磁金属自由层、铁磁金属固定层和势垒层,所述势垒层设置在所述铁磁金属自由层与所述铁磁金属固定层之间,所述磁隧道结设置在所述第一掺杂区上,所述铁磁金属固定层的磁矩方向固定不变,所述铁磁金属自由层的磁矩方向可改变。
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