[发明专利]集成电路器件电源上电过程中的电流测试系统及方法有效
| 申请号： | 201611264477.6 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN106597062B | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 王华;刘远华;汤雪飞;季海英;叶建明 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路器件电源上电过程中的电流测试系统及方法，可以利用现有的ATE测试系统本身测试组件，进行设置和编程，能够自动、准确的测量待测集成电路器件在电源上电过程中的瞬时电流和最大上电电流，从而自动化、规模化、低成本、高效率的实现待测集成电路器件电源上电过程中的瞬时电流和最大上电电流的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 器件 电源 过程 中的 电流 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路器件电源上电过程中的电流测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，预先定义待测集成电路器件所有电源管脚的初始电压，并设置所述待测集成电路器件各电源管脚在上电过程中的钳位电流；S2，设计所述待测集成电路器件的电源上电过程，所述电源上电过程包括起始电压、稳定电压以及所述起始电压和稳定电压之间的电压变化曲线；S3，创建测量动作以及所述测量动作对应的执行向量，所述测量动作包括测量点及其施加电压的设置、测量次数以及测量结果输出；S4，定义所述执行向量的运行周期，且所述运行周期的频率为所述执行向量的频率；S5，按照步骤S2设计的电源上电过程对所述待测集成电路器件上电，在所述电源上电过程中，根据步骤S1中的初始电压和钳位电流、步骤S3中的执行向量以及步骤S4中的运行周期，对每个测量点进行电流测量，并输出相应的测量结果，以获得所述待测集成电路器件电源上电过程中的瞬时电流和最大上电电流。
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