[发明专利]电容容值测量电路有效
申请号: | 201611264800.X | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN106501618B | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
发明(设计)人: | 万峰;张旭;陈光胜;江友志 | 申请(专利权)人: | 上海东软载波微电子有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 潘彦君;吴敏 |
地址: | 200235 上海市徐汇区*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种电容容值测量电路,包括:控制器、待测电容、电容充放电单元、计时器以及计数器,其中:控制器,适于在获取到待测电容的电压达到放电完成电压阈值时,输出充电控制信号;在获取到待测电容的电压达到充电完成电压阈值时,输出放电控制信号;在测试完成后,计算待测电容的平均充电时长;根据预设的标准电容对应的充电时长与标准电容容值的对应关系,计算待测电容容值;电容充放电单元,适于在充电控制信号的控制下,与待测电容形成充电回路;在接收到放电控制信号时,控制待测电容放电;计时器,适于计时待测电容的充电总时长;计数器,适于记录测试过程中待测电容的充电总次数。上述方案能够提高电容容值测量的精度。 | ||
搜索关键词: | 电容 测量 电路 | ||
【主权项】:
1.一种电容容值测量电路,其特征在于,包括:控制器、待测电容,分别与所述控制器及所述待测电容耦接的电容充放电单元、计时器以及计数器、第一比较器、第二比较器、锁存器,其中:所述控制器,适于在获取到所述待测电容的电压达到预设放电完成电压阈值时,输出充电控制信号至所述电容充放电单元;以及在获取到所述待测电容的电压达到预设充电完成电压阈值时,输出放电控制信号至所述电容充放电单元;在测试完成后,获取所述计时器对应的所述待测电容的充电总时长以及所述计数器对应的所述待测电容的充电总次数,计算所述待测电容的平均充电时长;根据待测电容的充电总时长、待测电容的充电总次数、预设的标准电容对应的充电时长与标准电容容值,计算所述待测电容容值;所述电容充放电单元,适于在所述充电控制信号的控制下,与待测电容形成充电回路,使所述待测电容充电;适于在所述放电控制信号的控制下,与所述待测电容形成放电回路,使所述待测电容放电;所述第一比较器,第一输入端输入所述充电完成电压阈值对应的电压,第二输入端与所述待测电容的第一端耦接,输出端与所述控制器的第一输入端耦接;所述第二比较器,第一输入端输入所述放电完成电压阈值对应的电压,第二输入端与所述待测电容的第一端耦接,输出端与所述控制器的第二输入端耦接;所述待测电容的第二端与地耦接;所述锁存器的复位端与所述第一比较器的输出端耦接;所述锁存器的置位端与所述第二比较器的输出端耦接;所述锁存器的输出端与所述计时器的使能信号输入端以及所述计数器的时钟信号输入端耦接;所述计时器,适于在所述使能信号输入端输入高电平时开始计时,以获取所述待测电容的充电总时长;所述计数器,适于记录所述时钟信号输入端输入信号的上升沿次数,以记录测试过程中所述待测电容的充电总次数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海东软载波微电子有限公司,未经上海东软载波微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611264800.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。