[发明专利]硅片抛光方法在审
申请号: | 201611266972.0 | 申请日: | 2016-12-31 |
公开(公告)号: | CN106670944A | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 林涛 | 申请(专利权)人: | 上海合晶硅材料有限公司 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02;B24D11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201616 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅片抛光方法,所述硅片放置于大盘上并随大盘旋转;使用旋转的抛布研磨硅片表面以抛光;所述抛布为圆形形状切割多条边而成,相邻两条切边不重合;切割方法为垂直于径向切割抛布,切割长度为自圆周顶点向圆心方向切割的尺寸L为:抛头转速与大盘转速比×抛头直径与大盘直径比×硅片直径。本发明中的硅片抛光方法,将圆形的抛布边缘割除一部分部分,减少抛布与硅片的边缘接触面积,可降低在抛光过程中边缘的抛去量。使用本发明中的硅片抛光方法,硅片抛光不良率由3.4%降至0.5%。 | ||
搜索关键词: | 硅片 抛光 方法 | ||
【主权项】:
硅片抛光方法,其特征在于,所述硅片放置于大盘上并随大盘旋转;使用旋转的抛布研磨硅片表面以抛光;所述抛布为圆形形状切割多条边而成,相邻两条切边不重合;切割方法为垂直于径向切割抛布,切割长度为自圆周顶点向圆心方向切割的尺寸L为:抛头转速与大盘转速比×抛头直径与大盘直径比×硅片直径。
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