[发明专利]超低温六分量天平校准复位过程中的位姿检测方法有效
| 申请号： | 201611270451.2 | 申请日： | 2016-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN106872139B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 皮阳军;郑万国;朱小龙;宋代平;周海;袁晓东;谢志江;刘飞;谢鑫泉;陈远斌;刘超;李亮亮;罗欢 | 申请（专利权）人： | 重庆大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01M9/06 | 分类号： | G01M9/06;G01C21/00 |
| 代理公司： | 重庆大学专利中心 50201 | 代理人： | 王翔 |
| 地址： | 400044 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 一种超低温六分量天平校准复位过程中的位姿检测方法，其包括步骤通过一个施力机构对位于一个低温箱内的一个校准加载头施加标准载荷；控制一个低温箱温度从常温到低温再到超低温的过程中，通过一组高精度激光位移传感器采集位于该低温箱内的一个校准加载头在X方向上的低温变形量，并通过一个复位机构补偿该校准加载头在X方向上的低温变形量；通过一个施力机构对该校准加载头施加标准载荷；通过一组高精度激光位移传感器在该低温箱外采集该校准加载头的位移量；将该校准加载头的位移量传输至一个控制系统中，以使该控制系统根据该校准加载头的位移量获得该校准加载头在该低温箱内的线位移和角位移，以在后续根据该校准加载头的线位移和角位移，通过一个复位机构进行补偿。 | ||
| 搜索关键词： | 超低温 分量 天平 校准 复位 过程 中的 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种超低温六分量天平校准复位过程中的位姿检测方法，其特征在于，该超低温六分量天平校准复位过程中的位姿检测方法包括：步骤1，控制一个低温箱温度从常温到低温再到超低温的过程中，通过一组高精度激光位移传感器采集位于该低温箱内的一个校准加载头在X方向上的低温变形量，并通过一个复位机构补偿该校准加载头在X方向上的低温变形量；步骤2，通过一个施力机构对该校准加载头施加标准载荷；步骤3，通过一组高精度激光位移传感器在该低温箱外采集该校准加载头的位移量；步骤4，将该校准加载头的位移量传输至一个控制系统中，以使该控制系统根据该校准加载头的位移量获得该校准加载头在该低温箱内的线位移和角位移，以在后续根据该校准加载头的线位移和角位移，通过该复位机构进行补偿。
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