[发明专利]白光中子成像方法及采用其的材料组成无损检测方法

摘要

一种白光中子成像方法，包括步骤：中子源发射脉冲中子束并记录发射时间；探测器探测脉冲中子束得到中子的位置和到达时间并传输到处理单元；处理单元根据中子的到达时间及记录的发射时间得到中子的能量信息，对中子按能量分组得到二维中子通量分布重复上述步骤，得到放置样品时的二维中子通量分布根据的值及能量分组信息生成具有中子能量信息的中子透射图像。另提出一种无损检测材料组成的方法，利用不同角度采集的位置信息重建三维空间信息并结合能量信息得到空间单元格点的透射信息，将此值与原子核数据库比对确定材料的组成。本发明在无损情况下可精确地确定材料的组成，测量的中子能量范围最宽可以覆盖从eV到百兆eV。

主权项

1.一种白光中子成像方法，包括以下步骤：步骤11、脉冲型加速器中子源发射宽能谱的脉冲中子束并记录发射时间；步骤12、探测器探测并测量所述脉冲中子束，得到每个中子的位置和到达时间，并将所述每个中子的位置和到达时间传输到处理单元；步骤13、所述处理单元根据所述每个中子的到达时间及记录的发射时间得到该中子的能量信息，对所有中子按能量分组，并按照所述中子的位置信息得到不同位置处的中子通量步骤14、放置样品于脉冲型加速器中子源和探测器之间，重复步骤11‑13，得到放置样品时不同位置处的中子通量根据所述的值及放置样品时的所述能量分组信息生成一系列连续的具有中子能量分辨的中子透射图像，其能量分辨率能够进行共振峰分辨。