[实用新型]一种PCB生产工艺中测量曝光底片涨缩值的治具有效
| 申请号： | 201620020966.6 | 申请日： | 2016-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN205491457U | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 张文和 | 申请（专利权）人： | 黄石沪士电子有限公司 |
| 主分类号： | H05K3/00 | 分类号： | H05K3/00 |
| 代理公司： | 武汉河山金堂专利事务所(普通合伙) 42212 | 代理人： | 胡清堂 |
| 地址： | 435000 湖北省黄石市黄石*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种PCB生产工艺中测量曝光底片涨缩值的治具，所述治具是一种与变形前的曝光底片形状大小相同的且放于两个曝光底片之间的基准片，所述基准片上有多个孔设置在基准片的四角，用于比对曝光底片涨缩的变形量。本实用新型改善了PCB生产工艺的曝光过程中对曝光底片涨缩值测量的方法，提高了工作效率，节约了成本，同时也避免了曝光底片在转移过程中的刮伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcb 生产工艺 测量 曝光 底片 涨缩值 | ||
【主权项】：
一种PCB生产工艺中测量曝光底片涨缩值的治具，其特征在于所述治具是一种与变形前的曝光底片(2)形状大小相同的且放于两个曝光底片(2)之间的基准片(1)，所述基准片(1)上有多个孔(3)。
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