[实用新型]基面距检测器具有效

专利信息
申请号: 201620034912.5 申请日: 2016-01-14
公开(公告)号: CN205537442U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 李霞 申请(专利权)人: 武汉协和齿环有限公司
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14
代理公司: 武汉河山金堂专利事务所(普通合伙) 42212 代理人: 胡清堂
地址: 430056 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种基面距检测器具,包括:用于套装被检测齿环的圆盘体、与所述圆盘体一体成型的柱体、带第一腔体的支撑座、标准块、百分表,所述柱体设置在所述圆盘体下端,所述柱体容纳于所述支撑座的第一腔体内,且所述圆盘体设置在所述支撑座的端面以上,所述标准块套装在所述圆盘体上,用于校准所述百分表,所述百分表的顶端与所述圆盘体相连,使得被测齿环套装在所述圆盘体上,当向所述圆盘体施加向下垂直压力后,用于检测被测齿环的基面距。
搜索关键词: 基面距 检测 器具
【主权项】:
一种基面距检测器具,其特征在于:包括用于套装被检测齿环的圆盘体(1)、与所述圆盘体(1)一体成型的柱体(2)、开设有第一腔体(31)的支撑座(3)、标准块(4)、百分表(5),所述柱体(2)设置在所述圆盘体(1)下部,所述柱体(2)容纳于所述支撑座(3)的第一腔体(31)内,且所述圆盘体(1)设置在所述支撑座(3)的端面以上,所述标准块(4)套装在所述圆盘体(1)上,用于校准所述百分表(5),所述百分表(5)的顶端与所述圆盘体(1)相连,使得被测齿环套装在所述圆盘体(1)上,当向所述圆盘体(1)施加向下垂直压力后,用于检测被测齿环的基面距。
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