[实用新型]X射线平面探测器的空间分辨率测量装置有效

专利信息
申请号: 201620041084.8 申请日: 2016-01-18
公开(公告)号: CN205378134U 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 杨志文;刘慎业;陈韬;袁铮;李晋;黎宇坤;高扬;余建;董建军 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型提供了一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置,该装置包括X射线发生装置、分辨率板、滤片和X射线平面探测器,分辨率板和X射线平面探测器之间设有针孔,X射线发生装置发出的中心光线依次穿过分辨率板的中心、滤片的中心、针孔、X射线平面探测器的感光面的中心。平移台I驱动分辨率板沿光路方向运动、平移台II驱动针孔沿光路方向运动,以调节针孔成像系统的放大倍数,使分辨率板成像到X射线平面探测器的感光面上,生成被测线对束。本实用新型的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置提高了空间分辨率和测量准确度,降低了分辨率板制作难度,且不损伤X射线平面探测器的感光面。
搜索关键词: 射线 平面 探测器 空间 分辨率 测量 装置
【主权项】:
一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置,包括X射线发生装置、分辨率板(3)、滤片(6)和X射线平面探测器,其特征在于,分辨率板(3)和X射线平面探测器之间设有针孔(11),X射线发生装置发出的中心光线(15)依次穿过分辨率板(3)的中心、滤片(6)的中心、针孔(11)、X射线平面探测器的感光面的中心。
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