[实用新型]一种频域光学相干层析装置有效

专利信息
申请号: 201620058457.2 申请日: 2016-01-21
公开(公告)号: CN205514536U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 高鹏;凌福日 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;G01N21/45
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 廖盈春
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种频域光学相干层析装置,属于太赫兹相干层析成像技术领域,现有的光学相干层析装置速度慢,成本高;本实用新型的频域光学相干层析装置包括产生THz的汞灯、分束器、用于横向扫描的电控二维平移台、用于放置样品的载物台、参考反射镜、衍射光栅、电控一维平移台、探测器,由于不需要参考镜的纵向扫描,大大加快了成像速度。用点阵CCD扫描的方式取代面阵CCD,降低了系统装置的成本。而且本结构采用宽谱汞灯作为光源,纵向成像分辨率可以达到100μm。
搜索关键词: 一种 光学 相干 层析 装置
【主权项】:
一种频域光学相干层析装置,所述装置包括产生THz的汞灯、分束器、用于横向扫描的电控二维平移台、用于放置样品的载物台、参考反射镜、衍射光栅、电控一维平移台、探测器;所述汞灯的出射光经分束器分别通过样品臂和参考臂,经过干涉再通过所述衍射光栅后被所述探测器所接收;所述样品臂包括用于所述横向扫描的电控二维平移台和所述用于放置样品的载物台,用于将光入射到所述样品内部并反射回来;所述参考臂包括所述参考反射镜,用于将光进行反射并与通过所述样品臂的光进行干涉;所述探测器位于所述电控一维平台上。
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