[实用新型]光学瞄准用标定检测装置有效
申请号: | 201620061753.8 | 申请日: | 2016-01-21 |
公开(公告)号: | CN205482980U | 公开(公告)日: | 2016-08-17 |
发明(设计)人: | 惠梅;赵跃进;刘明;董立泉 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 仇蕾安;李爱英 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型属于光学瞄准技术领域,特别涉及对光学瞄准系统的标定检测。一种光学瞄准用标定检测装置,包括:光学平台(1),高度可调的五个支撑座(2、5、10、12、14),四个准直经纬仪(3、6、11、13),棱镜装置(16)和小反射镜(15),用于架设被测左仪器的固定座(4),设有导轨(8)和丝杠(9)用以承载被测右仪器的安装调整座(7);采用本实用新型可以实现对方位角测量传递装置中的右仪器、左仪器内部的空间夹角进行快速标定检测,并完成对右仪器的倾斜仪误差、自准直光管误差进行标定检测。可以显著缩短测量时间,降低测试人员的工作强度,提高工作效率,批量标定检测情况下尤为显著。 | ||
搜索关键词: | 光学 瞄准 标定 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种光学瞄准用标定检测装置,其特征是:它包括:光学平台(1),五个支撑座,四个准直经纬仪,棱镜装置(16),小反射镜(15),固定座(4)以及安装调整座(7);所述五个支撑座固定在所述光学平台(1)上且高度可调,其中,第一支撑座(2)上架设有第一准直经纬仪(3),第二支撑座(5)上架设有第二准直经纬仪(6),第三支撑座(10)上架设有第三准直经纬仪(11),第四支撑座(12)上架设有第四准直经纬仪(13),第五支撑座(14)上架设有所述棱镜装置(16)和所述小反射镜(15);所述固定座(4)固定在所述光学平台(1)上,用于架设被测左仪器;所述安装调整座(7)固定在所述光学平台(1)上,且位于所述第二支撑座(5)和第五支撑座(14)之间的位置,其上设有用于调整被测右仪器位置的导轨(8)和丝杠(9);所述安装调整座(7)俯仰可调;所述第一准直经纬仪(3)的光轴方向可调,或正对所述被测左仪器的中心棱镜法线方向,或与所述第二准直经纬仪(6)的光轴对瞄;所述第二准直经纬仪(6)的光轴方向可调,或正对所述被测左仪器侧面基准棱镜法线方向,或正对被测右仪器背部的检测棱镜法线方向,或所述第一准直经纬仪(3)的光轴对瞄;所述第三准直经纬仪(11)的光轴正对所述被测右仪器侧面反光镜的法线方向;所述第四准直经纬仪(13)的光轴正对在所述小反射镜(15)的法线方向;所述小反射镜(15)安装在所述棱镜装置(16)的侧面,所述棱镜装置(16)的方位可调,通过调整所述棱镜装置(16)的方位角,得到由所述第四准直经纬仪(13)测得的所述棱镜装置(16)方位角读数和所述被测右仪器内部自准直光管测得的失准角读数。
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