[实用新型]一种磁光材料的Verdet常数测量装置

摘要

一种磁光材料的Verdet常数测量装置，属于材料光学性质测试技术领域。具体涉及一种磁光材料的Verdet常数测量装置。本实用新型是为了解决在光学电流传感器制作过程中，精确测量光学电流传感器的传感头所使用的磁光材料的Verdet常数的问题。本实用新型包括一号底座、激光器、光阑、起偏器、一号电磁铁、特斯拉计、待测磁光材料、二号底座、二号电磁铁、恒压电源、检偏器、测角仪、光功率计。其中，激光器下带有一号支架，光阑下带有二号支架，起偏器下带有三号支架，二号底座下带有四号支架，检偏器下带有五号支架，光功率计下带有六号支架。

主权项

一种磁光材料的Verdet常数测量装置，其特征在于：它包括一号底座（1）、激光器（2）、光阑（3）、起偏器（4）、一号电磁铁（5）、特斯拉计（6）、待测磁光材料（7）、二号底座（8）、二号电磁铁（9）、恒压电源（10）、检偏器（11）、测角仪（12）、光功率计（13）；激光器（2）下带有一号支架（2‑1），光阑（3）下带有二号支架（3‑1），起偏器（4）下带有三号支架（4‑1），二号底座（8）下带有四号支架（8‑1），检偏器（11）下带有五号支架（11‑1），光功率计（13）下带有六号支架（13‑1）；测量装置在一号底座（1）上从左到右依次放置激光器（2）、光阑（3）、起偏器（4）、恒压电源（10）、检偏器（11）、光功率计（13），且它们彼此间隔10cm，一号电磁铁（5）与二号电磁铁（9）放于恒压电源（10）的两侧，特斯拉计（6）紧贴于起偏器（4）后方，恒压电源（10）中间位置放置四号支架（8‑1），其上放置二号底座（8），二号底座（8）上放置待测磁光材料（7），且要求光信号能够通过所有器件中心部位。