[实用新型]一种测试装置有效
| 申请号： | 201620076867.X | 申请日： | 2016-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN205539239U | 公开（公告）日： | 2016-08-31 |
| 发明（设计）人： | 任伟;李超;王波 | 申请（专利权）人： | 联宝（合肥）电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人： | 黄威;郭迎侠 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经济技术*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种测试装置,包括基体、均设于所述基体上并各对应不同种类的存储卡的多个插卡器、设于所述基体上用于和所述多合一卡槽相连的测试接头及设于所述基体上并分别与所述电子设备的信号接口和所述测试接头电连接的调控部，所述调控部配置为根据从所述电子设备的信号接口接收的选择指令而切换为与所述多个插卡器中对应的一个插卡器电连接，以使所述对应的一个插卡器通过所述调控部与所述测试接头电连接。本实用新型的测试装置的有益效果在于缩短了多合一卡槽的测试时间，提高了生产线测试效率，且有效避免了由于频繁插拔存储卡而导致存储卡损坏的现象，延长了存储卡的使用寿命，显著降低了生产测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种测试装置,用于对电子设备上的多合一卡槽的功能进行测试,其特征在于,所述测试装置包括：基体；多个插卡器，均设于所述基体上并各对应不同种类的存储卡；设于所述基体上用于和所述多合一卡槽相连的测试接头，所述测试接头具有能够同时与所述多合一卡槽的各电接口电连接的连接端；及设于所述基体上并分别与所述电子设备的信号接口和所述测试接头电连接的调控部，所述调控部配置为根据从所述电子设备的信号接口接收的选择指令而切换为与所述多个插卡器中对应的一个插卡器电连接，以使所述对应的一个插卡器通过所述调控部与所述测试接头电连接。
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