[实用新型]用于快速测量阵列天线辐射特性的装置有效
| 申请号： | 201620131344.0 | 申请日： | 2016-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN205404688U | 公开（公告）日： | 2016-07-27 |
| 发明（设计）人： | 邓晖;陈东;刘山虎;卢童 | 申请（专利权）人： | 石家庄世联达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 050091 河北省石家庄市新石北路*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种用于快速测量阵列天线辐射特性的装置，包括扫描机构、网络分析仪和计算机，所述网络分析仪和扫描机构分别与控制其运行的计算机相连，所述网络分析仪同时还与天线相连，所述扫描机构包括用于放置天线的操作台、位于天线上方的探针和驱动探针水平移动的驱动器，所述探针和天线的测试接头分别连接至网络分析仪上，在网络分析仪与测试接头之间连接设置一射频开关，所述射频开关和驱动器均通过一转串接口与计算机相连接。使用本实用新型极大的缩短了天线测试时间，解决量产天线实现大批量测试的需求，降低了劳动强度，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 快速 测量 阵列 天线 辐射 特性 装置 | ||
【主权项】：
用于快速测量阵列天线辐射特性的装置，其特征是，包括扫描机构、网络分析仪（Ⅱ）和计算机（Ⅰ），所述网络分析仪（Ⅱ）和扫描机构分别与控制其运行的计算机（Ⅰ）相连，所述网络分析仪（Ⅱ）同时还与天线（1）相连，所述扫描机构包括用于放置天线（1）的操作台（2）、位于天线（1）上方的探针（5）和驱动探针（5）水平移动的驱动器（7），所述探针（5）和天线（1）的测试接头分别连接至网络分析仪（Ⅱ）上，在网络分析仪（Ⅱ）与测试接头之间连接设置一射频开关（Ⅳ），所述射频开关（Ⅳ）和驱动器（7）均通过一转串接口（Ⅲ）与计算机（Ⅰ）相连接。
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