[实用新型]一种x射线平场谱仪有效

专利信息
申请号: 201620139968.7 申请日: 2016-02-24
公开(公告)号: CN205403953U 公开(公告)日: 2016-07-27
发明(设计)人: 柳秋盈 申请(专利权)人: 北京佳诺贝科技有限责任公司
主分类号: G01J3/18 分类号: G01J3/18;G01J3/28
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 胡剑辉
地址: 100081 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种x射线平场谱仪,包括:壳体、入射狭缝、收光场、铝板、光栅和记录单元。壳体用于屏蔽高能射线辐射,由铸铁制成;入射狭缝设置在壳体顶端;收光场设置在壳体内,入射狭缝后;铝板沿光线传输方向设置在收光场后,用于过滤低能光线;光栅沿光线传输方向设置在铝板后,对入射光线进行衍射;记录单元设置在壳体的尾端。本实用新型给出的x射线平场谱仪,精简不重要的调节机构,整体设计紧凑、简单易用,能够应用于不同的等离子体环境测量。
搜索关键词: 一种 射线 平场谱仪
【主权项】:
一种x射线平场谱仪,其特征在于,包括:壳体,用于屏蔽高能射线辐射,由铸铁制成;入射狭缝,设置在所述壳体顶端;收光场,设置在所述壳体内,所述入射狭缝后;铝板,沿光线传输方向设置在所述收光场后,用于过滤低能光线;光栅,沿光线传输方向设置在所述铝板后,用于入射x射线掠入射而后进行衍射;记录单元,设置在所述壳体的尾端,用于收集记录。
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