[实用新型]一种x射线平场谱仪有效
申请号: | 201620139968.7 | 申请日: | 2016-02-24 |
公开(公告)号: | CN205403953U | 公开(公告)日: | 2016-07-27 |
发明(设计)人: | 柳秋盈 | 申请(专利权)人: | 北京佳诺贝科技有限责任公司 |
主分类号: | G01J3/18 | 分类号: | G01J3/18;G01J3/28 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 100081 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种x射线平场谱仪,包括:壳体、入射狭缝、收光场、铝板、光栅和记录单元。壳体用于屏蔽高能射线辐射,由铸铁制成;入射狭缝设置在壳体顶端;收光场设置在壳体内,入射狭缝后;铝板沿光线传输方向设置在收光场后,用于过滤低能光线;光栅沿光线传输方向设置在铝板后,对入射光线进行衍射;记录单元设置在壳体的尾端。本实用新型给出的x射线平场谱仪,精简不重要的调节机构,整体设计紧凑、简单易用,能够应用于不同的等离子体环境测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 平场谱仪 | ||
【主权项】:
一种x射线平场谱仪,其特征在于,包括:壳体,用于屏蔽高能射线辐射,由铸铁制成;入射狭缝,设置在所述壳体顶端;收光场,设置在所述壳体内,所述入射狭缝后;铝板,沿光线传输方向设置在所述收光场后,用于过滤低能光线;光栅,沿光线传输方向设置在所述铝板后,用于入射x射线掠入射而后进行衍射;记录单元,设置在所述壳体的尾端,用于收集记录。
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