[实用新型]用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱有效
| 申请号： | 201620194260.1 | 申请日： | 2016-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN205428496U | 公开（公告）日： | 2016-08-03 |
| 发明（设计）人： | 昌林;陆松林 | 申请（专利权）人： | 深圳市云储科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型具体涉及一种用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，包括箱体、温度控制器、接口电路板、用于控制温度控制器工作的控制按键、用于运行存储芯片的系统主机以及用于显示运行结果的主显示屏；温度控制器安装在箱体内，控制按键安装在箱体表面，控制按键与温度控制器电性连接；接口电路板安装在箱体内，接口电路板设有多个用于连接存储芯片的电插口，接口电路板与系统主机电连接，系统主机与主显示屏电连接。在温度控制器作用下，使箱体内温度达到一恒定值，箱体内安装接口电路板，将待测试的存储芯片安插在接口电路板的电插口，由系统主机在特定温度下运行存储芯片，用于检测储存芯片在高温环境下的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 存储 芯片 高温 环境 数据 保存 能力 | ||
【主权项】：
一种用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，其特征在于，包括设有开关门的箱体、用于控制箱体内温度的温度控制器、接口电路板、用于控制温度控制器工作的控制按键、用于运行存储芯片的系统主机以及用于显示运行结果的主显示屏；所述温度控制器安装在箱体内，所述控制按键安装在箱体表面，所述控制按键与温度控制器电性连接；所述接口电路板安装在箱体内，所述接口电路板设有多个用于连接存储芯片的电插口，所述接口电路板与系统主机电连接，所述系统主机与主显示屏电连接。
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