[实用新型]一种存储芯片的测试设备有效
| 申请号： | 201620194321.4 | 申请日： | 2016-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN205451779U | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 昌林;陆松林 | 申请（专利权）人： | 深圳市云储科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种存储芯片的测试设备，其特征在于，包括一恒温箱，所述恒温箱内部设有温度控制装置，所述恒温箱的内部设有接口电路，所述接口电路连接有用于装入硬盘的多个插槽，所述接口电路与多个系统主机连接，多个所述系统主机位于所述恒温箱外侧，多个所述系统主机连接至一个或多个显示器；其中，多个所述系统主机均连接至一电源控制装置。通过系统主机与恒温箱的连接，实现了在存储芯片运行过程中提供一个高温环境，并通过电源控制装置进行随机断电。所述存储芯片的测试设备通过上述结构可以在高温环境下，高效率的测试储存芯片的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种存储芯片的测试设备，其特征在于，包括一恒温箱，所述恒温箱内部设有温度控制装置，所述恒温箱的内部设有接口电路，所述接口电路连接有用于装入硬盘的多个插槽，所述接口电路与多个系统主机连接，多个所述系统主机位于所述恒温箱外侧，多个所述系统主机连接至一个或多个显示器；其中，多个所述系统主机均连接至一电源控制装置。
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