[实用新型]一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路有效
| 申请号： | 201620205417.6 | 申请日： | 2016-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN205608123U | 公开（公告）日： | 2016-09-28 |
| 发明（设计）人： | 钟锋浩;徐俊杰;吴志豪;梁晋 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市滨江区江淑*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，由电源供电，控制模块电路包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，矩阵开关模块包括若干个子模块，每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接。用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路解决了含有极大数量引脚的集成电路芯片的测量能力不足的问题，大大提高了测量效率；通过滚动轴的设计使测量的成本大大降低，测试的效率进一步提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 引脚 芯片 短路 测试 控制 模块 电路 | ||
【主权项】：
一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，由电源供电，其特征是，包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，矩阵开关模块包括若干个子模块，每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接。
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