[实用新型]一种内嵌PMOS触发的用于静电防护的可控硅有效

专利信息
申请号: 201620210816.1 申请日: 2016-03-18
公开(公告)号: CN205595330U 公开(公告)日: 2016-09-21
发明(设计)人: 董树荣;郭维 申请(专利权)人: 江苏艾伦摩尔微电子科技有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 母秋松;董建林
地址: 215300 江苏省苏州市昆*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种内嵌PMOS触发的用于静电防护的可控硅,包括:P型衬底、N阱、P阱、P+注入区、N+注入区、多晶硅栅、浅槽隔离、阴极、阳极,所述N阱包括第一N阱、第二N阱,所述N+注入区包括第一N+注入区、第二N+注入区,所述P+注入区包括第一P+注入区、第二P+注入区;通过多晶硅栅、第一P+注入区和第二P+注入区在第一N阱上构成PMOS结构,能够在降低可控硅触发电压的同时提高维持电压,从而减小它的ESD工作窗口。本实用新型提供的一种内嵌PMOS触发的用于静电防护的可控硅,本设计结构简单,稳定可靠,维持电压高。
搜索关键词: 一种 pmos 触发 用于 静电 防护 可控硅
【主权项】:
一种内嵌PMOS触发的用于静电防护的可控硅,包括:P型衬底、N阱、P阱,其特征在于:还包括:P+注入区、N+注入区、多晶硅栅、浅槽隔离、阴极、阳极,所述N阱包括第一N阱、第二N阱,所述N+注入区包括第一N+注入区、第二N+注入区,所述P+注入区包括第一P+注入区、第二P+注入区,所述P型衬底上沿横向依次设置有第一N阱、P阱、第二N阱,所述第一N+注入区、第一P+注入区设置在第一N阱上,所述第二P+注入区跨设在第一N阱、P阱和第二N阱上,所述第二N+注入区设置在第二N阱上;所述多晶硅栅设置在第一N阱上的第一P+注入区与第二P+注入区之间的位置;所述第一N+注入区和外部结构之间通过浅槽隔离进行隔离,所述第一N+注入区和第一P+注入区之间通过浅槽隔离进行隔离,所述第二P+注入区和第二N+注入区之间通过浅槽隔离进行隔离,所述第二N+注入区和外部结构之间通过浅槽隔离进行隔离;所述第一N+注入区、第一P+注入区和多晶硅栅均接入阳极,所述第二N+注入区、第二P+注入区均接入阴极。
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