[实用新型]电子产品老化自动测试平台有效
申请号: | 201620211064.0 | 申请日: | 2016-03-18 |
公开(公告)号: | CN205484607U | 公开(公告)日: | 2016-08-17 |
发明(设计)人: | 顾力保;贾佳;姚雁;吴文光;罗茂 | 申请(专利权)人: | 深圳长城开发科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人: | 周惠来;刘耿 |
地址: | 518031 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种电子产品老化自动测试平台,其包括:主机;主控单元,与该主机通讯连接;继电器通道选择单元,受控于该主控单元,用于建立该主机与选中的待测电子产品之间的连接;可编程电源单元,受控于该主控单元,用于经由该继电器通道选择单元提供待测电子产品所需的电压;电子噪声干扰隔离单元,其设置在该主机与该继电器通道选择单元之间,用于实现内部地与外部地之间的隔离;以及测试架单元,用于装载多个待测电子产品。本实用新型能够很好地兼顾电子产品的老化和功能测试。 | ||
搜索关键词: | 电子产品 老化 自动 测试 平台 | ||
【主权项】:
一种电子产品老化自动测试平台,其特征在于,包括:主机;主控单元,与该主机通讯连接;继电器通道选择单元,受控于该主控单元,用于建立该主机与选中的待测电子产品之间的连接;可编程电源单元,受控于该主控单元,用于经由该继电器通道选择单元提供待测电子产品所需的电压;电子噪声干扰隔离单元,其设置在该主机与该继电器通道选择单元之间,用于实现内部地与外部地之间的隔离;以及测试架单元,用于装载多个待测电子产品。
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