[实用新型]放盖试验校正装置有效
| 申请号： | 201620219174.1 | 申请日： | 2016-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN205464014U | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 肖旭辉 | 申请（专利权）人： | 湖南省福晶电子有限公司 |
| 主分类号： | B21D43/00 | 分类号： | B21D43/00;B21D51/44 |
| 代理公司： | 湖南省娄底市兴娄专利事务所 43106 | 代理人： | 朱成实 |
| 地址： | 417625 湖南省娄*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本实用新型提供放盖试验校正装置，它包括有长方形的磁板，磁板底部设有凹凸状的防滑条纹，防滑条纹表面设有粘胶层，并通过粘胶层安装在校正机架上，磁板上方设有校正机构。采用本方案后的结构简单、操作方便、磁板可以重复使用，从而大大降低设备使用成本。 | ||
| 搜索关键词： | 试验 校正 装置 | ||
【主权项】：
放盖试验校正装置，其特征在于：它包括有长方形的磁板（1），磁板（1）底部设有凹凸状的防滑条纹（2），防滑条纹（2）表面设有粘胶层（3），并通过粘胶层（3）安装在校正机架（4）上，磁板（1）上方设有校正机构。
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