[实用新型]X射线荧光分析设备有效

专利信息
申请号: 201620230444.9 申请日: 2016-03-24
公开(公告)号: CN205538758U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 刘海文 申请(专利权)人: 广东腾高发展有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了X射线荧光分析设备,属于分析设备技术领域;所述的样品台的前侧设有滤光片;所述的分析箱体内的底部设有驱动装置;所述的分析箱体侧壁的上方设有探测装置;所述的探测装置与模数转换机构连接;所述的X射线发生器设置在分析箱体的前侧;且X射线发生器设置在分析箱体底部的滑轨上;所述的X射线发生器与智能控制装置连接。它结构设计合理,操作方便,灵活性好,可以分析不同距离的X射线的荧光数据,分析结果准度高,分析的效果也高。
搜索关键词: 射线 荧光 分析 设备
【主权项】:
X射线荧光分析设备,其特征在于它包含分析箱体、样品台、滤光片、驱动装置、探测装置、模数转换机构、X射线发生器、智能控制装置;所述的分析箱体内设有样品台;所述的样品台的前侧设有滤光片;所述的分析箱体内的底部设有驱动装置;所述的分析箱体侧壁的上方设有探测装置;所述的探测装置与模数转换机构连接;所述的X射线发生器设置在分析箱体的前侧;且X射线发生器设置在分析箱体底部的滑轨上;所述的X射线发生器与智能控制装置连接。
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