[实用新型]一种适用于芯片的测试装置有效
| 申请号： | 201620240428.8 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN205484703U | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 高宗英 | 申请（专利权）人： | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 刘洪勋 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种适用于芯片的测试装置，包括原测试芯片印刷电路板，原测试芯片印刷电路板的上端上设置有转接测试插座，转接测试插座的底部和顶部都上设置有探针，转接测试插座底部上探针的排列与原测试芯片印刷电路板的测试点的排列一一相对应，转接测试插座的上端上设置有转接测试印刷电路板，插孔与转接测试插座顶部上的探针呈一一对应布置，转接测试印刷电路板的上端上设有待测试插孔，转接测试印刷电路板上设置有芯片测试插座，待测探针的排布与待测试插孔的排布相匹配布置。本实用新型通过转接测试插座将原测试芯片印刷电路板和转接测试印刷电路板进行转化，从而实现不需要重新设计测试板，达到降低成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种适用于芯片的测试装置，其特征在于：包括原测试芯片印刷电路板(1)，所述原测试芯片印刷电路板(1)的上端上设置有转接测试插座(2)，所述转接测试插座(2)的底部和顶部上都设置有探针，且转接测试插座(2)的顶部和底部上探针的排布相一一对称，所述转接测试插座(2)底部上探针的排列与原测试芯片印刷电路板(1)的测试点的排列一一相对应布置，所述转接测试插座(2)的上端上设置有转接测试印刷电路板(3)，所述转接测试印刷电路板(3)的底部上设置有与原测试芯片印刷电路板(1)的测试点的排列相一致的插孔，插孔与转接测试插座(2)顶部上的探针呈一一对应布置，所述转接测试印刷电路板(3)的上端上设有待测试插孔，所述转接测试印刷电路板(3)上设置有芯片测试插座(4)，所述芯片测试插座(4)上设置有待测探针，所述待测探针的排布与待测试插孔的排布相匹配布置，所述原测试芯片印刷电路板(1)、转接测试插座(2)、转接测试印刷电路板(3)从下往上依次套装在芯片测试插座(4)上。
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