[实用新型]一种用于测试透光介质双折射率差值的装置有效
| 申请号： | 201620255798.9 | 申请日： | 2016-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN205719932U | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 李俊慧;杨成惠;杨德伟;郝琰 | 申请（专利权）人： | 北京世维通科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23 |
| 代理公司： | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人： | 郭丽祥 |
| 地址： | 065201 河北省廊坊*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于测试透光介质双折射率差值的装置，包括：SLD光源、起偏器、温循箱、信号发生器、光电探测器和示波器；SLD光源发出的光信号进入起偏器，起偏器尾纤与被测透光介质尾纤以45°对轴熔接，起偏光波经过45°熔接后进入被测透光介质；信号发生器对被测透光介质施加预定频率的正弦波信号；光电探测器对由被测透光介质传输延迟的光信号进行探测，并转换成电信号放大后输出电信号，送达示波器；示波器获得光电探测器输出的电信号值。对采集的数据进行计算可获得被测透光介质双折射率差值。利用本实用新型实施例能够测试透光介质尤其是钛扩散铌酸锂波导的双折射率差值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 透光 介质 双折射 差值 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试透光介质双折射率差值的装置，其特征在于，包括：超辐射发光二极管SLD光源、起偏器、温循箱、信号发生器、光电探测器和示波器，其中测试时，被测透光介质放置在温循箱中，温循箱中装有温度传感器；其中，SLD光源发出的光信号进入起偏器，起偏器尾纤与被测透光介质尾纤以45°对轴熔接，起偏光波经过45°熔接后进入被测透光介质；信号发生器对被测透光介质施加预定频率的正弦波信号；光电探测器对由被测透光介质传输延迟的光信号进行探测，并转换成电信号放大后输出电信号，送达示波器；示波器获得光电探测器输出的电信号值。
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