[实用新型]一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201620276877.8 申请日: 2016-04-01
公开(公告)号: CN205656249U 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: 张智畅;陈蓓;胡梦海 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/02
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 谭启斌
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置,包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的接触探针,第一支架和第二支架分设于基座一侧,第一支架用于固定外部电路板上的待测试焊盘,接触探针设于第二支架上,基座上开有第一接口和第二接口,接触探针的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接,接触探针的另一端与固定在第一支架上的外部电路板上的待测试焊盘位置对应,且待测试焊盘通过穿过第二接口的电线与处理器电连接,第二支架与基座滑动配合,直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接。本实用新型可以对焊盘的点接触老化和焊盘的接触电阻进行测试。
搜索关键词: 一种 接触 电阻 点接触 老化 测试 装置
【主权项】:
一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置,其特征在于,包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的接触探针,第一支架和第二支架分设于基座一侧,第一支架用于固定外部电路板上的待测试焊盘,接触探针设于第二支架上,基座上开有第一接口和第二接口,接触探针的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接,接触探针的另一端与固定在第一支架上的外部电路板上的待测试焊盘位置对应,并用于与待测试焊盘电接触,且待测试焊盘通过穿过第二接口的电线与处理器电连接,第二支架与基座滑动配合,直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接,用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。
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