[实用新型]一种半导体芯片的焊盘有效
申请号: | 201620295177.3 | 申请日: | 2016-04-11 |
公开(公告)号: | CN205488110U | 公开(公告)日: | 2016-08-17 |
发明(设计)人: | 罗轶明;黄建 | 申请(专利权)人: | 上海芯泽电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽;黄玉祺 |
地址: | 201204 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型提供一种半导体芯片的焊盘,包括至少两层金属层。所述焊盘还包括一通孔层,所述通孔层夹设于所述金属层间,并且在所述焊盘通孔层上形成复数个通孔,所述通孔排列成列形成复数个通孔列,其中,所述复数个通孔列以所述焊盘的对称轴为中心轴,所述通孔列的列长随着距离所述中心轴的增加而逐渐减小。本实用新型的半导体芯片的焊盘,在不损半导体失芯片功效的条件下,通过简单地对焊盘通孔排布进行调整,有效地提高了半导体芯片焊盘的生产良率从而提高产品的良率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 | ||
【主权项】:
一种半导体芯片的焊盘,包括至少两层金属层,其特征在于,所述焊盘还包括一通孔层,所述通孔层夹设于所述金属层间,并且在所述通孔层上形成复数个通孔,所述通孔排列成列形成复数个通孔列,其中,所述复数个通孔列以所述焊盘的对称轴为中心轴,所述通孔列的列长随着距离所述中心轴的增加而逐渐减小。
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