[实用新型]一种降低材料应力影响的MEMS封装结构有效

专利信息
申请号: 201620298828.4 申请日: 2016-04-12
公开(公告)号: CN205442632U 公开(公告)日: 2016-08-10
发明(设计)人: 李秉纬 申请(专利权)人: 扩达电子(上海)有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 王新生
地址: 201803 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种降低材料应力影响的MEMS封装结构,包括基板、垫片和MEMS传感器,所述MEMS传感器设于垫片上,所述垫片设于基板上,所述基板中央设有通孔,所述垫片与MEMS传感器相交处四角位置外侧均刻有滴胶槽,内侧均设有固晶点,所述滴胶槽通过导胶槽与固晶点连接,所述垫片中央设有中心孔且向外刻有多层环形凹槽,本实用新型降低封装材料热应力对MEMS传感器的影响,提高MEMS传感器整体精度,同时降低封装成本。
搜索关键词: 一种 降低 材料 应力 影响 mems 封装 结构
【主权项】:
一种降低材料应力影响的MEMS封装结构,其特征在于:包括基板、垫片和MEMS传感器,所述MEMS传感器设于垫片上,所述垫片设于基板上,所述基板中央设有通孔,所述垫片与MEMS传感器相交处四角位置外侧均刻有滴胶槽,内侧均设有固晶点,所述滴胶槽通过导胶槽与固晶点连接,所述垫片中央设有中心孔且向外刻有多层环形凹槽,所述滴胶槽内滴有胶水,所述多层环形凹槽内设有密封胶。
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