[实用新型]一种测试晶振好坏的电路有效
| 申请号： | 201620320845.3 | 申请日： | 2016-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN205656252U | 公开（公告）日： | 2016-10-19 |
| 发明（设计）人： | 谢建明 | 申请（专利权）人： | 盐城师范学院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 22405*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种电路，特别涉及一种测试晶振好坏的电路。其特征是：晶振输入端的一端和三极管的集电极相连，晶振输入端的另一端和三极管的基极相连，直流电源的正极通过开关、第一电阻和三极管的基极相连，三极管的基极通过第二电阻和直流电源的负极相连，第三电阻和第三电容并联后的一端和三极管的发射极相连，另一端和直流电源的负极相连，三极管的集电极通过第一电容、第二电容和直流电源的负极相连，第四电容、高频变压器初级线圈和第一电容并联，第四电阻和第二电容并联，高频变压器次级线圈的一端通过二极管、第五电容和高频变压器次级线圈的另一端相连。由于采用上述技术方案，本实用新型所具有的优点和积极效果是：实用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 好坏 电路 | ||
【主权项】：
一种测试晶振好坏的电路，由晶振输入端、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、三极管、高频变压器、二极管、开关、电流表和直流电源组成，其特征是：晶振输入端(H)的一端和三极管(Q)的集电极相连，晶振输入端(H)的另一端和三极管(Q)的基极相连，直流电源(E)的正极通过开关(K)、第一电阻(R1)和三极管(Q)的基极相连，三极管(Q)的基极通过第二电阻(R2)和直流电源(E)的负极相连，第三电阻(R3)和第三电容(C3)并联后的一端和三极管(Q)的发射极相连，另一端和直流电源(E)的负极相连，三极管(Q)的集电极通过第一电容(C1)、第二电容(C2)和直流电源(E)的负极相连，第四电容(C4)、高频变压器(B)初级线圈和第一电容(C1)并联，第四电阻(R4)和第二电容(C2)并联，高频变压器(B)次级线圈的一端通过二极管(D)、第五电容(C5)和高频变压器(B)次级线圈的另一端相连，电流表(A)和第五电容(C5)并联。
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