[实用新型]一种电磁阀寿命测试的测试回路有效
申请号: | 201620329224.1 | 申请日: | 2016-04-18 |
公开(公告)号: | CN205843934U | 公开(公告)日: | 2016-12-28 |
发明(设计)人: | 陶国良;阿勇嘎;范翔 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司33200 | 代理人: | 林超 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种电磁阀寿命测试的测试回路。测试回路包括电磁阀性能测试设备、压力传感器、气罐、减压阀等,测试回路负责待测电磁阀的寿命循环和性能测试。本实用新型能够很好地解决现有电磁阀寿命测试的高强度、周期长、工作量大、无法测试性能变化等缺点。 | ||
搜索关键词: | 一种 电磁阀 寿命 测试 回路 | ||
【主权项】:
一种电磁阀寿命测试的测试回路,其特征在于:包括作为压力源的气源(1)、减压阀(2)和多路测试分路,气源(1)经减压阀(2)与每一路测试分路连接,每一路测试分路包括用于稳压的气罐(3)、开关(4)、待测电磁阀(5)、压力传感器(6)、电磁阀性能测试设备(7)和消音器(8),气罐(3)的输入端与减压阀(2)连接,气罐(3)的输出端经开关(4)与待测电磁阀(5)的一端连接,待测电磁阀(5)的另一端经压力传感器(6)与电磁阀性能测试设备(7)连接,待测电磁阀(5)连接有消音器(8)。
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