[实用新型]一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统有效
| 申请号： | 201620345947.0 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN205538723U | 公开（公告）日： | 2016-08-31 |
| 发明（设计）人： | 王凤蕊;刘红婕;耿锋;黄进;蒋晓东;李青芝;叶鑫;孙来喜;周晓燕 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 吴开磊 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统，属于光学元件吸收缺陷的损伤特性测试领域。所述光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统包括光热弱吸收测试装置、损伤测试光源以及损伤监测显微镜。所述光热弱吸收测试装置用于测试待测光学元件的吸收缺陷对泵浦光的吸收值。所述损伤测试光源用于发出损伤测试激光作用于所述待测光学元件的所述吸收缺陷处。所述损伤监测显微镜用于获取所述待测光学元件的所述吸收缺陷在所述损伤测试激光的作用下的损伤特性。因此，本实用新型可以有效地实现对待测光学元件吸收缺陷的损伤性能的表征，进而获得待测光学元件的吸收缺陷的吸收水平与损伤特性的定量关系。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 吸收 缺陷 损伤 特性 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统，其特征在于，包括光热弱吸收测试装置、损伤测试光源以及损伤监测显微镜；所述光热弱吸收测试装置用于测试待测光学元件的吸收缺陷对泵浦光的吸收值；所述损伤测试光源用于发出损伤测试激光作用于所述待测光学元件的所述吸收缺陷处；所述损伤监测显微镜用于获取所述待测光学元件的所述吸收缺陷在所述损伤测试激光的作用下的损伤特性。
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