[实用新型]一种图案化衬底的测量装置有效
申请号: | 201620348192.X | 申请日: | 2016-04-22 |
公开(公告)号: | CN205609478U | 公开(公告)日: | 2016-09-28 |
发明(设计)人: | 涂亮亮;刘亚坤;林建男;魏明德 | 申请(专利权)人: | 徐州同鑫光电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01N1/28 |
代理公司: | 徐州市三联专利事务所 32220 | 代理人: | 周爱芳 |
地址: | 221000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开一种图案化衬底的测量装置,属于半导体制程技术领域,包括垂直支架(1)、与垂直支架连接的水平支架(2)、铰接在垂直支架上用于放置测试样品的支撑台(3)、及设置在支撑台前端的伸缩装置(6);垂直支架的下端与水平支架固定连接,垂直支架的上端通过旋转轴(5)与所述支撑台的一端连接,支撑台的另一端安装有所述用于调节支撑台长度的伸缩装置;所述水平支架上设有三个角度卡槽(4),所述伸缩装置分别与所述三个角度卡槽由外至内连接,可实现支撑台与水平面的夹角为30°、45°和60°。该装置在不破坏样品的前提下,将样品倾斜一定角度,根据倾斜后的SEM图像测量的样品形貌高度,通过运算得到样品的垂直高度。 | ||
搜索关键词: | 一种 图案 衬底 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种图案化衬底的测量装置,其特征在于,包括垂直支架(1)、与垂直支架(1)连接的水平支架(2)、铰接在垂直支架(1)上用于放置测试样品的支撑台(3)、及设置在支撑台(3)前端的伸缩装置(6);所述垂直支架(1)的下端与水平支架(2)固定连接,垂直支架(1)的上端通过旋转轴(5)与所述支撑台(3)的一端连接,所述支撑台(3)的另一端安装有所述用于调节支撑台(3)长度的伸缩装置(6);所述水平支架(2)上设有三个角度卡槽(4),所述伸缩装置(6)分别与所述角度卡槽(4)连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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