[实用新型]相控阵超声波检测装置的校准试块有效
申请号: | 201620360299.6 | 申请日: | 2016-04-26 |
公开(公告)号: | CN205720115U | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 陈亮;尤卫宏;吴员;张天江;李江;姜华;裴彪 | 申请(专利权)人: | 中国海洋石油总公司;海洋石油工程股份有限公司 |
主分类号: | G01N29/30 | 分类号: | G01N29/30 |
代理公司: | 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 | 代理人: | 高凤荣 |
地址: | 100010 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种相控阵超声波检测装置的校准试块,包括:一校准试块,该校准试块的一端设有第一半圆弧、第二半圆弧,第一半圆弧和第二半圆弧两个圆弧为同圆心,且第一半圆弧、第二半圆弧为阶梯状;校准试块的另一端设有一防止曲线制作过程中产生干扰回波的斜面,校准试块上设有数个横通孔,横通孔的一侧分别设有上探头放置面和下探头放置面。本实用新型只需一个试块,便能够同时实现超声波声速、楔块延时、灵敏度及时间校正增益的检测及曲线制作,解决了校验需多个试块,并分别检测及曲线制作的多重工作的问题;不仅大大提高了相控阵超声波检测装置的校验效率,而且,校准结果更加准确。 | ||
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【主权项】:
相控阵超声波检测装置的校准试块,其特征在于:包括:一校准试块,该校准试块的一端设有第一半圆弧、第二半圆弧,第一半圆弧和第二半圆弧两个圆弧为同圆心,且第一半圆弧、第二半圆弧为阶梯状;校准试块的另一端设有一防止曲线制作过程中产生干扰回波的斜面,校准试块上设有数个横通孔,横通孔的一侧分别设有上探头放置面和下探头放置面。
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