[实用新型]一种内建式存储器自动耐力测试板有效
| 申请号： | 201620391638.7 | 申请日： | 2016-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN205722803U | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 肖金磊;欧阳睿;刘静;解辰 | 申请（专利权）人： | 北京同方微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区五*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种内建式存储器自动耐力测试板，所述测试板配置电源单元、控制单元、测试单元和固定单元，电源单元连接控制单元和测试单元，控制单元和测试单元相互连接；其中，电源单元，用于提供电源；控制单元包含复位模块、拨码模块、插针模块和时钟模块；复位模块，用于给测试板的被测芯片发出复位信号；拨码模块，用于设置测试板的测试电压；插针模块，用于为测试板提供电源；时钟模块，用于给被测芯片提供时钟信号；该测试板无需使用自动测试仪或者电脑/读卡器就能对芯片存储器完成耐力循环考核测试，具有节约成本和高效的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内建式 存储器 自动 耐力 测试 | ||
【主权项】：
一种内建式存储器自动耐力测试板，其特征在于，所述测试板配置电源单元（10）、控制单元（20）、测试单元（30）和固定单元（40），电源单元（10）连接控制单元（20）和测试单元（30），控制单元（20）和测试单元（30）相互连接；电源单元（10），用于提供电源；控制单元（20），包含复位模块（21）、拨码模块（22）、插针模块（23）和时钟模块（24）；复位模块（21），用于给所述测试板的被测芯片发出复位信号；拨码模块（22），用于设置所述测试板的测试电压；插针模块（23），用于为所述测试板提供电源；时钟模块（24），用于给被测芯片提供时钟信号。
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