[实用新型]一种基于电容测试的多层PCB板介质层厚度检测装置有效
申请号: | 201620412786.2 | 申请日: | 2016-05-06 |
公开(公告)号: | CN205561751U | 公开(公告)日: | 2016-09-07 |
发明(设计)人: | 崔蜀巍 | 申请(专利权)人: | 鹤山市中富兴业电路有限公司 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 谭晓欣 |
地址: | 529727 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种基于电容测试的多层PCB板介质层厚度检测装置,所述装置包括设置在所述多层PCB板每一层上的互不导通、形状尺寸相同的数个铜块,及设置在所述多层PCB板第一层上的数个测试焊盘,所述数个测试焊盘分别与所述多层PCB板各层的铜块相对应;各层铜块通过引线和/或金属化导孔与相对应的测试焊盘连接。所述方法是使用电容测试仪测量各层铜块之间的电容值,并通过对比设计理论电容值可以快速、简单、直观及准确的判断PCB板各层间的介质层厚度是否满足要求,避免了切片分析的复杂性和破坏性。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 电容 测试 多层 pcb 介质 厚度 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种基于电容测试的多层PCB板介质层厚度检测装置,其特征在于:包括设置在所述多层PCB板每一层上的互不导通、形状尺寸相同的数个铜块,及设置在所述多层PCB板第一层上的数个测试焊盘,所述数个测试焊盘分别与所述多层PCB板各层的铜块相对应;各层铜块通过引线和/或金属化导孔与相对应的测试焊盘连接。
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