[实用新型]PIN-FET光接收组件自动测试系统有效

专利信息
申请号: 201620427946.0 申请日: 2016-05-11
公开(公告)号: CN205594105U 公开(公告)日: 2016-09-21
发明(设计)人: 魏铁钧;陈雪姝 申请(专利权)人: 北京浦丹光电股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M11/00
代理公司: 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 代理人: 叶树明
地址: 100023 北京市大兴区北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种PIN‑FET光接收组件自动测试系统,包括光电测控平台、测控模块、被测器件适配器和上位机;所述光电测控平台为插件式机箱,为插接的各功能模块提供总线通讯和工作电源;所述光电测控平台通过USB电缆或无线传输接口与上位机实现数据通讯;所述测控模块与所述光电测控平台插接后组成所述PIN‑FET光接收组件自动测试系统的主机,所述主机通过通用或专用的光缆与电缆与所述被测器件适配器进行信号连接,实现对所述被测器件适配器的自动测试。基于光电测控平台实现PIN‑FET器件参数测试,将不同的单参数测量设备功能重新进行规划和整合,并实现为插件式模块,采用统一的通信接口和通讯协议,能够灵活的扩展硬件,方便快捷的建立测试程序。
搜索关键词: pin fet 接收 组件 自动 测试 系统
【主权项】:
PIN‑FET光接收组件自动测试系统,其特征在于,包括光电测控平台、测控模块、被测器件适配器和上位机;所述光电测控平台为插件式机箱,为插接的各功能模块提供总线通讯和工作电源;所述光电测控平台通过USB电缆或无线传输接口与上位机实现数据通讯;所述测控模块与所述光电测控平台插接后组成所述PIN‑FET光接收组件自动测试系统的主机,所述主机通过通用或专用的光缆与电缆与所述被测器件适配器进行信号连接,实现对所述被测器件适配器的自动测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京浦丹光电股份有限公司,未经北京浦丹光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620427946.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top