[实用新型]芯片测试装置有效
| 申请号： | 201620446981.7 | 申请日： | 2016-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN206020601U | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 沈琦崧;余玉龙 | 申请（专利权）人： | 上海兆芯集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海波拓知识产权代理有限公司31264 | 代理人： | 杨波 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种芯片测试装置，用于测试芯片，所述测试装置包括多数个次框架、多数个连接器以及多数个盖体。次框架可拆卸地组合成适配于芯片的框架，连接器分别安装于次框架中，盖体分别覆盖于次框架，并使连接器定位于次框架中。连接器可与芯片做电性连接。此芯片测试装置能够根据所希望测试的芯片以多数个次框架来组合出适配的框架，可以节省制造的成本并简化测试的设备。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试装置，用于测试芯片，其特征在于：所述芯片测试装置包括多数个次框架、多数个连接器以及多数个盖体，该些次框架可拆卸地组合成适配于该芯片的框架，该些连接器分别安装于该些次框架中，该些盖体分别覆盖于该些次框架，并使该些连接器定位于该些次框架中，该些连接器可与该芯片做电性连接。
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