[实用新型]一种适用于管式PECVD沉积工艺的镀膜陪片有效
申请号: | 201620450408.3 | 申请日: | 2016-05-17 |
公开(公告)号: | CN206225382U | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
发明(设计)人: | 袁中存;党继东 | 申请(专利权)人: | 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/205 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 张海英,林波 |
地址: | 224431 江苏省盐*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种适用于管式PECVD沉积工艺的镀膜陪片,包括硅片,所述硅片的表面设置有绒面,所述绒面的表面预先沉积有二氧化硅膜层,在管式PECVD沉积工艺中,待沉积膜沉积于所述二氧化硅膜层的表面。进一步地,所述二氧化硅膜层的厚度为5~40nm,所述硅片的厚度不小于180um,所述待沉积膜为氮化硅膜层、氧化铝膜层、二氧化钛膜层或氮氧化硅膜层。该适用于管式PECVD沉积工艺的镀膜陪片,能够对管式PECVD工艺中沉积的氮化硅膜层快速去除并且去除效果好,从而利于重复利用。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 pecvd 沉积 工艺 镀膜 | ||
【主权项】:
一种适用于管式PECVD沉积工艺的镀膜陪片,包括硅片(1),其特征在于,所述硅片(1)的表面设置有绒面(2),所述绒面(2)的表面预先沉积有二氧化硅膜层(4),待沉积膜(3)沉积于所述二氧化硅膜层(4)的表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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